本文通過(guò)幾何作圖的方法并從聲學(xué)原理的角度討論在對(duì)高頻焊直縫鋼管的焊縫進(jìn)行超聲橫波探傷時(shí),應(yīng)該注意選擇適當(dāng)晶片尺寸的問(wèn)題。指出在管直徑較小時(shí)使用較大尺寸的晶片會(huì)在工件上產(chǎn)生表面波及其他波型的干擾,從而影響純橫波探傷時(shí)對(duì)焊縫缺陷的正確判斷。給出了晶片尺寸與管半徑的關(guān)系供選擇探頭時(shí)參考。本文對(duì)于其他同類(lèi)型的管材橫波探傷也有參考意義。 |
主題詞 無(wú)損檢測(cè) 焊縫 超聲檢測(cè) |
The selection of UT probe for high-frequency welded tube |
Jizhen Xia |
Abstract |
The article is discussed the problem that selection of the crystal size in the ultrasonic probe for ultrasonic-shear-wave testing to the high-frequency welds of stell tube by the method of geometrical construction and from the acoustic principle.It is indicated that the bigger crystal size will generate surface-wave and other wave-mode to interference on the workpiece when the tube diameter is smaller,so that influence the correct identification for the weld's defects during the pure shear-wave testing. |
1.問(wèn)題的提出 |
筆者在為某大型鋼管公司提供超聲波探傷技術(shù)咨詢(xún)服務(wù)時(shí)發(fā)現(xiàn),該公司對(duì)高頻焊接鋼管直焊縫進(jìn)行超聲橫波探傷時(shí),探傷工人以為采用大探頭可以加快探傷速度,于是使用晶片尺寸為13X13的2.5P-K1.5探頭(探傷儀是汕頭產(chǎn)CTS-23型),探傷對(duì)象是油田用的高頻焊直縫鋼管,規(guī)格有外徑四英寸、五英寸、六英寸、八英寸、十英寸和十二英寸,壁厚從3.5毫米到10.31毫米。探傷驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)按美國(guó)石油協(xié)會(huì)的API標(biāo)準(zhǔn)即3.0毫米直徑的徑向通孔(柱孔),探傷耦合劑為機(jī)油或漿糊。 |
在這樣的探傷條件下,探傷過(guò)程中經(jīng)常有回波信號(hào)出現(xiàn)并且被判斷為缺陷信號(hào)。實(shí)際上通過(guò)觸摸法和聲程位置判斷以及解剖證實(shí)均不是焊縫缺陷回波,結(jié)果造成的誤判率最高曾達(dá)到90%。造成這樣高的誤判率除了探傷工人本身操作技術(shù)問(wèn)題和判傷經(jīng)驗(yàn)不足以外,分析起來(lái)其使用的探頭晶片選擇不當(dāng)也是一個(gè)重要的原因。為此,筆者進(jìn)行了理論上的分析計(jì)算和探討如下。 |
2.晶片尺寸大小與在管材上激發(fā)純超聲橫波的關(guān)系 |
如后面附圖所示,通過(guò)簡(jiǎn)單的幾何作圖可以推導(dǎo)出斜探頭晶片的切向尺寸D與鋼管外半徑R以及晶片上下邊緣聲線(xiàn)在鋼管曲面上入射角的關(guān)系有: |
α' = arcsin[sinα+(D/2R)] |
α''= arcsin[sinα-(D/2R)] |
式中:α' 為晶片上邊緣聲線(xiàn)在管材表面上的入射角;α''為晶片下邊緣聲線(xiàn)在管材表面上的入射角;α 為晶片聲軸線(xiàn)在管材表面上的入射角;R 為管材外半徑 |
從圖中可以明顯看到α'>α>α'',根據(jù)所采用的管材直徑和探頭型式有以下計(jì)算結(jié)果,見(jiàn)表1至表4。 |
表1 2.5P13x13K2探頭(聲軸線(xiàn)入射角α= 49.7°) |
鋼管外徑4英寸5英寸6英寸8英寸10英寸12英寸a′62.95°59.89°57.99°55.76°54.47°53.64° (27%)(21%)(17%)(12%)(10%)(8%)a″39.4°41.32°42.64°44.32°45.36°46.06° (-21%)(-17%)(-14%)(-11%)(-9%)(-7%) |
注:表中括號(hào)內(nèi)的數(shù)字表示與聲軸線(xiàn)入射角相差的百分?jǐn)?shù),以下均同。 |
表2 2.5P8x10K2探頭(聲軸線(xiàn)入射角α=49.7°) |
鋼管外徑4英寸5英寸6英寸8英寸10英寸12英寸a′57.29°55.66°54.6°53.33°52.58°52.08° (15%)(12%)(10%)(7%)(6%)(5%)a″43.15°44.4°45.25°46.33°46.98°47.43° (-13%)(-11%)(-9%)(-7%)(-5%)(-5%) |
表3 2.5P13x13K1.5探頭(聲軸線(xiàn)入射角α=45.2°) |
鋼管外徑4英寸5英寸6英寸8英寸10英寸12英寸a′56.88°54.29°52.64°50.67°49.53°48.78° (26%)(20%)(16%)(12%)(10%)(8%)a″35.56°37.39°38.63°40.21°41.18°41.83° (-21%)(-17%)(-15%)(-11%)(-9%)(-7%) |
表4 2.5P8x10K1.5探頭(聲軸線(xiàn)入射角α=45.2°) |
鋼管外徑4英寸5英寸6英寸8英寸10英寸12英寸a′52.03°50.58°49.65°48.5°47.82°47.38° (15%)(12%)(10%)(7%)(6%)(5%)a″39.11°40.28°41.08°42.08°42.69°43.1° (-13%)(-11%)(-9%)(-7%)(-6%)(-5%) |
注:探頭斜楔材料按有機(jī)玻璃縱波速度2730米/秒;鋼中橫波速度按3200米/秒,鋼中縱波速度按5900米/秒。 |
討論: |
從計(jì)算結(jié)果可以發(fā)現(xiàn),晶片直徑(或切向邊長(zhǎng))相對(duì)鋼管直徑為較大的時(shí)候,其上邊緣聲線(xiàn)入射角已經(jīng)接近或超出第二臨界角(對(duì)于有機(jī)玻璃-鋼界面,其第二臨界角為58°左右)從而會(huì)激發(fā)出表面波造成干擾,鋼管的曲率越大和晶片直徑越大則激發(fā)表面波的機(jī)會(huì)越大,這是其一。此外,從近聲場(chǎng)特性來(lái)看,晶片直徑越大,相對(duì)于一定的頻率和材料其近場(chǎng)長(zhǎng)度也越大,眾所周知,脈沖超聲波束在近場(chǎng)內(nèi)呈收斂狀態(tài)至N點(diǎn)后再發(fā)散,因此對(duì)于一般斜探頭斜楔中聲軸線(xiàn)聲程為10-15毫米的情況下,2.5P13X13斜探頭在有機(jī)玻璃斜楔中的近場(chǎng)長(zhǎng)度約有38.41毫米而2.5P8X10斜探頭在有機(jī)玻璃斜楔中的近場(chǎng)長(zhǎng)度則只有約14.55毫米,顯然后者上下邊緣聲線(xiàn)的收斂程度大于前者,因而其上下邊緣聲線(xiàn)入射角將會(huì)更接近聲軸線(xiàn)的入射角,亦即有利于聲束的集聚,這是其二。第三個(gè)可能造成干擾的因素是在對(duì)壁厚僅有3.5毫米的鋼管探傷時(shí),若晶片直徑相對(duì)于壁厚較大,則有可能會(huì)因?yàn)榇执蟮牟ㄊ阡摴鼙”谥蟹瓷湫纬莎B加干涉而激發(fā)出某種模式的蘭姆波造成干擾。 |
因此,在綜合考慮探傷靈敏度和探傷速度的情況下,適當(dāng)選擇切向邊長(zhǎng)較小而軸向尺寸較大(即較寬)的晶片應(yīng)該是有利的。 |
3.實(shí)際探傷驗(yàn)證 |
考慮到探傷對(duì)象是壁厚與外徑之比在0.02-0.05范圍的薄壁管,采用K2探頭較有利于發(fā)現(xiàn)最常見(jiàn)的徑向取向的焊縫缺陷,故選擇聲束相對(duì)扁寬且能保證必需的發(fā)射功率以保證探傷靈敏度的2.5P8X10K2探頭進(jìn)行探傷。 |
通過(guò)對(duì)原來(lái)探傷判定不合格的數(shù)百?lài)嶄摴芨挠?.5P8X10K2探頭進(jìn)行全部復(fù)驗(yàn),確認(rèn)約90%的鋼管并非存在不合格缺陷而不該判廢,從而避免了重大的浪費(fèi)。采用改進(jìn)后的探傷工藝在以后的探傷中也大大降低了虛假缺陷回波信號(hào)的出現(xiàn)幾率,大幅度提高了探傷的可靠性,顯著降低了探傷的誤判率。 |
4.結(jié)論 |
綜上所述,筆者認(rèn)為在鋼管超聲橫波探傷中,應(yīng)當(dāng)注意探頭晶片尺寸與鋼管曲率的關(guān)系,特別是曲率較大的鋼管應(yīng)當(dāng)采用切向尺寸較小的晶片。在綜合考慮探傷靈敏度和探傷速度與效率的需要情況下,適當(dāng)選擇切向邊長(zhǎng)較小而軸向尺寸較大(即較寬)的晶片有利于減少干擾回波信號(hào)的產(chǎn)生。 |
附圖:幾何推導(dǎo)示意圖 |
原文出處: http://www.bviltd.cn/hichina/wenxian/xjz-wenku/gaopinhan.html 更多內(nèi)容,可以訪(fǎng)問(wèn)原文.
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